数字通信世界杂志

摘要：单粒子效应是电子器件中因为单个粒子撞击而引起的电性能失效现象，这些效应会引起电子器件的逻辑状态改变，使器件的功能受到干扰或完全失效。通过研究单粒子效应，可以了解单粒子效应对电子器件的影响机制，采取有针对性的防护措施，提高系统的可靠性。基于此，本文对单粒子效应故障出现的原因进行分析，针对引发单粒子效应故障的主要因素，提出抗辐射设计、冗余备份等方法，为电子工程硬件的维护工作提供技术支持。

关键词： 单粒子效应;抗辐射设计;冗余备份;

专辑： 信息科技

专题： 无线电电子学

分类号： TN03